LAM-D拍照式叶面积仪 植物叶面指数测定仪产品介绍 LAM-D拍照式叶面积仪（电脑版）由图像采集设备和图像处理软件组成，采用本公司新开发的图像识别软件，根据叶片轮廓特征提取、图形实物转换、边缘检测等技术，能够形象并快速得到所测叶片面积、周长、虫洞数量等参数。相比传统的叶面积，具有测量更快速简便、结果更形象客观、数据多样并大大减少了人为操作带来的误差。测量参数：叶片面积、周长，最大叶长、最大叶宽，

LAM-G叶面积仪 农作物叶片多参数测定仪用途： LAM系列叶面积测量仪是一种使用方便、可以在野外工作的便携式仪器。可以精确、快速、无损伤地测量叶片的叶面积及相关参数，也可对采摘的植物叶片及其它片状物体进行面积测量。广泛应用于农业、气象、林业等部门。

LAM-B植物叶面积仪 叶片面积测量仪用途： LAM系列叶面积测量仪是一种使用方便、可以在野外工作的便携式仪器。可以精确、快速、无损伤地测量叶片的叶面积及相关参数，也可对采摘的植物叶片及其它片状物体进行面积测量。广泛应用于农业、气象、林业等部门。可测量叶片的多种参数：叶面积、平均叶面积、叶长、叶宽。

LAM-A叶面积测量仪 便携式叶片面积检测仪功能特点 1）主机、探头一体化设计，更方便操作。 2）采用微电脑技术，LCD大液晶显示。 3）高性能充电锂电池，无需外部供电，低电压显示，更适用于野外测量。 4）一次性可测量较大叶片面积（1000*155mm） 5）可存储9999组数据（叶面积、叶长、叶宽）。 6）可测量叶片的多种参数：叶面积、平均叶面积、叶长、叶宽。

FS-leaf1000叶片图像分析仪 农作物叶面积仪仪器用途 FS-leaf1000叶片图像分析仪是一款计算机图像分析系统，可以对阔叶叶片图像进行叶面积及形态分析测量。该仪器由分析软件和经过调校便携式图像采集硬件组成（可便携的笔记本供电的扫描仪），可以分析计算出叶片面积、周长、叶片长度、宽度等各种参数广泛运用于植物生理学、植物生态学、植物病理学、农学、园艺和林学等学科。

植物茎秆强度测量仪 作物生长抗倒伏测试仪仪器介绍： 植物茎秆的强度是决定作物抗倒伏能力的一个主要因素，长期以来玉米，高梁、烟草等的倒伏给作物的机械收割造成很大的困难。从机械化水平来说，造成大量的粮食浪费。另外，作物倒伏导致光照不充分，使其生产量受到极大的限制。在作物生长的各个阶段对其茎秆进行活体测量，进而根据茎杆纤维层的抗弯阻力与抗倒伏能力的相关性对群体测量数据进行统计处理，对作物的栽培和育种具有

植物茎秆强度测量仪 茎秆抗压强度检测仪功能特点： 1、三种不同测头：可进行茎杆弯折性能测量、茎秆抗压强度测量、茎杆组织结构（穿刺）强度测量；弯折支架距离可调，并标有刻度。 2、可配测位移标尺 3、可连接电脑测试，可保存、打印，做各种分析，输入速度、面积还可显示位移、压强等参数； 4、可储存999个测试值； 5、大屏幕液晶显示，有背光功能，并具有屏幕数字正、倒反转功能；

DDZ-1植物抗倒伏测定仪 农作物倒伏分析仪仪器介绍： 近年来，由于氮肥的大量使用以及增加种植密度，提高了农作物单产，但是倒伏问题却越来越严重，小麦、水稻大面积倒伏直接影响产量和品质，所以测量植物的茎秆强度和抗倒伏能力具有重要的意义。DDZ系列植物抗倒伏测定仪通过配置的探针、拉钩、压板等附件来测量农作物的茎秆强度及抗倒伏能力。 最大负荷：50N、500N (其他量程可定制，N、Kg和ib三种单位可

农作冠层中光线测量仪FS-PAR植物冠层测定仪： FS-PAR植物冠层测定仪可广泛应用于农业生产和农业科研，为进行冠层光能资源调查，测量植物冠层中光线的拦截，研究作物的生长发育、产量品质与光能利用间的关系，本仪器用于400nm－700nm波段内的光合有效辐射（PAR）测量、记录,测量值的单位是平方米·秒上的微摩尔（µmol·m -2·s-1）

植物冠层图像分析仪 植物直射辐射透过率用途与适用范围： 可测算植物冠层的太阳直射光透过率、天空散射光透过率、冠层的消光系数，叶面积指数和叶片平均倾角等，可用于农作物、果树、森林内冠层受光状况的测量和分析可用于不同植物群体结构的比较；可对农田作物群体生长过程进行动态监测，适用于生态学野外植物群体动态监测的研究与教学； 也适用于农业、园艺、林业领域有关栽培、育种、植物群体对比与发展的研究与教学。